干涉測(cè)量實(shí)驗(yàn)裝置

儀器特點(diǎn)：

該儀器主要利用導(dǎo)軌、支架及光學(xué)組件、如雙棱鏡分成兩束光，將兩束光相遇產(chǎn)生的明暗相間的干涉條紋用讀數(shù)顯微鏡測(cè)出條紋間距，再用二次成像繪測(cè)出一大、一小兩個(gè)縫像（即虛光源S1、S2）之間的距離代入公式即可。

實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：

1．楊氏雙縫干涉

2．菲涅爾雙棱鏡干涉

3．牛頓環(huán)裝置

成套性：

導(dǎo)軌、二維調(diào)整架、干板架、白屏、單面可調(diào)狹縫、低壓鈉燈、雙棱鏡、牛頓環(huán)、透鏡、讀數(shù)顯微鏡、雙縫